高溫老化試驗箱什么時候會縮短設(shè)備早期故障？
2022-04-02 09:50 林頻儀器
高溫老化試驗箱什么時候會縮短設(shè)備的早期故障？為了使產(chǎn)品達到滿意的合格率，大多數(shù)制造商在出廠前必須通過高溫老化試驗箱的老化試驗，上海林頻將為您解釋。
這樣可以降低和縮短老化過程帶來的成本和時間問題，與其他產(chǎn)品一樣，半導體設(shè)備可能會因各種原因隨時出現(xiàn)故障。高溫老化試驗箱是使半導體在短時間內(nèi)超載，避免早期使用故障。通常，由于設(shè)備和制造工藝的復雜性，未經(jīng)老化試驗的半導體成品在使用中會出現(xiàn)許多問題。
注：半導體早期故障是指開始使用后幾小時至幾天內(nèi)出現(xiàn)的缺陷（取決于制造工藝的成熟度和裝置的整體結(jié)構(gòu)）。高溫老化試驗箱老化后的裝置基本上需要大多數(shù)通過這段時間。我司技術(shù)部認為，準確確定老化時間的方法是參考以往收集的老化故障和故障分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)，而大多數(shù)制造商希望減少或取消老化。